안녕하세요.

SIC, GaN측정 솔루션 간단히 소개 드립니다

데이터 쉬트 및 소개자료 첩부드립니다(연락처; 010-7143-0490)

감사합니다

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새로운 1GHz DL-ISO 고전압 Wide Band Gap 프로브·전력 반도체 소자 테스트 소프트웨어를 출시하게 되었습니다. 

JEDEC에서 기술하고 있는 오실로스코프를 이용한 스위칭 손실 측정 방법을 자동화해 GaN 및 SiC 디바이스 손실 측정을 간단하게 수행할 수 있으며 턴온(Turn-on), 턴오프(Turn-off) 등의 측정 대상 영역을 하이라이트한 컬러 오버레이 기능으로 구분해 표시합니다.
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